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应对多样化数字接口测试挑战的解决方案——基于可编程FPGA的测试仪器
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2017-10-16
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很多公司支持军方客户发展可以测试多种产品的通用测试站。测试站被设计用于测试“大部分”UUTs。对于测试“大部分”以外的 UUTs，随着“大部分”以外的 UUTs 的数量和种类的增加，为了完成全部测试，需要使用的测试仪器的数量也会成直线彪升。在通用测试站中使用可编程仪器，可减少对测试“大部分”以外的 UUTs 的仪器数量甚至不再需要额外的测试仪器。基于 PXI［1］ FPGA 板卡为测试站提供此种解决方案，如图
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