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电磁兼容性辐射发射测试方法（适用于工作频率30-1000MHZ）
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电磁兼容性辐射发射测试方法（适用于工作频率30-1000MHZ）随着电子技术的发展，电路频率的不断提高，在电子产品的设计、开发生产、使用和维护的整个周期中，电磁兼容性（EMC）已经成为必须考虑的一环。按照电磁兼容目的为基准，电磁兼容可以分为诊断测试和达标测试。通过诊断测试，找到电磁兼容问题的原因，确定噪声源与被干扰的方位，进而解决。通过达标测试，评估产品是否达到电磁兼容标准。按照电磁兼容测试内容，电磁兼容可以分为骚扰（EMI）发射测试和设备的抗扰度（EMS）测试。EMI测试时设备向外界发射电磁骚扰，EMS则相反，通过给设备外加骚扰，测试其抗干扰能力。其中EMI骚扰发射的方式又分为辐射发射（RE）和传导发射（CE）。二者的区别在于骚扰发射传播的介质不同：一个为自由空间，一个为电源线。文中主要针对电磁辐射发射测试技术进行了相关研究。随着电磁兼容理论的发展，电磁发射发射测试技术不断进步，一些新的试验场地得到了开发，例如TEMCELL，G-TEMCELL，混响室等等。新场地增强了输入功率和产生的骚扰场强的转化效率，使得抗扰度测试的进行更加容易。另一个新的发展是APD（幅度概率分布）在测试中的使用。本文基于APD设计了辐射发射方法，将在后文介绍。同时白于不同频率短的电子产品，电磁兼容测试的方法又有不同，主要体现在较高频段测量产品辐射的电场强度，较低频段测量产品的磁场强度。文中针对30-1 000 MHz频率段的辐射发射测试技术作详细研究与介绍。
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