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偏振相关损耗（PDL）的测量及其影响因素的介绍

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:0.3 MB | 2017-11-13

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　　偏振相关损耗（PDL）的测量对测量系统中的扰动极其敏感，这些扰动包括光源的不 稳定性，连接器的反射，甚至是测试光纤的布局。如果测试装置布置不合理，即使采用高精度的测量设备也可能会出现较大的测量误差或波动。该说明书描述了精确 测量 PDL 的通常注意事项，以及减少使用 General Photonics 公司 PDL 测试仪 （PDL-101）测量误差的方法。

　　PDL 的定义：

偏振相关损耗（PDL）的测量及其影响因素的介绍

　　其中 Pmax 和 Pmin 分别为当被测器件（DUT）输入光的偏振态在所有可能的偏振态间扫描时，通过 DUT 的最大和最小输出功率。

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