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面向芯片设计的测试新理念

消耗积分:3 | 格式:rar | 大小:344 | 2009-12-17

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面向芯片设计的测试新理念
爱德万测试（苏州有限公司）上海分公司
李金铁 刘旸
摘要：SoC 芯片的发展使集成电路测试重要性越来越明显，传统的测试概念已经不适用现在和将来的集成电路测试需求。本文将详细分析这个的问题，列举在集成电路测试中面临的问题，引出一种面向芯片设计的新的测试理念，并介绍基于这一理念的一系列新的解决方案，分别对应快速响应市场的需求和提升新产品品质的需求。
关键词：面向芯片设计的测试，EDA-Linkage，快速响应市场，提升新产品品质
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