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基于电网络法的红外热像检测盲区分析方法
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2017-12-14
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为提高红外成像法检测劣化绝缘子的准确性，提出一种基于电网络法的红外热像检测盲区分析方法。根据绝缘子串电压分布，结合绝缘子的发热模型，对比了理想条件下和存在测量误差时的红外热像检测盲区，并就盲区绝缘子对绝缘子串整体温升的影响进行了分析。仿真和试验结果表明：红外热像检测盲区的大小由绝缘子在串中的位置和测量误差决定，绝缘子串两端的绝缘子处于盲区时，对整串绝缘子存在明显的温升抬升效应。根据仿真及试验所得的规律，提出减少红外热像检测盲区的措施，为绝缘子劣化检测提供参考和方法借鉴。
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