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红外显微镜用于测量高性能微波GaN HEMT器件和MMIC的有什么局限性？

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:0.68 MB | 2018-07-25

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　　本文讨论了红外显微镜用于测量高性能微波GaN HEMT器件和MMIC的局限性。它还将描述Qorvo的热分析集成方法，它利用建模、经验测量（包括显微拉曼热成像）和有限元分析（FEA）。该方法是非常有效的，并已被经验验证。通过承认红外显微镜的局限性，预测和测量可以比用低功率密度技术开发的传统方法更精确。

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