资料下载
×
十种常见的器件噪声分析错误
消耗积分:0 |
格式:rar |
大小:1.18 MB |
2018-03-05
分享资料个
器件噪声的影响在纳米级CMOS工艺中极为关键，因为它在根本上制约了许多45 nm及以下工艺电路的性能。当给定正确的工具，器件噪声分析（DNA）将是一个相当简单的过程，并且仿真结果与硅测量结果只有1 -2 dB的误差。但有几种常见的错误可能导致严重高估或低估器件噪声的影响，进而造成严重的过度设计和设计不足。
DNA有三种基本类型。瞬态噪声分析是一种适用于所有电路类型的统计时序方法。瞬态噪声分析也是唯一适用于非周期性电路的器件噪声分析。对于周期驱动型电路（例如电荷泵和开关电容滤波器）而言，周期噪声分析通常要比瞬态噪声分析快得多，并且能够提供更全面的诊断信息。同理，对于周期性自激电路而言，振荡器噪声分析通常要比瞬态噪声分析快得多，并且能够提供更全面的诊断信息（例如器件贡献和灵敏度分析）。由于瞬态噪声分析适用于所有电路类型，因此它可提供一种有效的方法来对周期性电路和振荡器进行交互检查。如果使用得当，上述所有方法得到的结果和硅测量结果的误差都只在l-2dB以内。
声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉
评论(0)
发评论
- 相关下载
- 相关文章
