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AN028：SiC功率二极管的可靠性

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:1.02MB | 2025-01-23

李微波

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GeneSiC Semiconductor的碳化硅(SiC)合并PiN-肖特基(MPSTM)功率二极管在过去几年中有着良好的记录，因此在固有可靠性方面有着出色的表现。碳化硅合并PiN-肖特基功率二极管系列的*MPS*和*SLT*系列已经进入生命周期的成熟阶段，在现场应用中已经积累了超过100亿个器件小时，该系列的总FIT(故障时间)率为每10亿个器件小时1.5次故障，这证实了我们的长期技术。本文解释了可靠性评估的方法，并给出了在各种操作和环境条件下的预期寿命。
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