本应用报告描述的方法来降低功耗的Hercules™基础微控制器,并提供了减少的迹象,可以实现。所有的例子和值是基于tmx570ls3137bzwt单片机和测量TI内部硅检测板。测量记录测量是在非生产硅上进行的,而不是在受控的环境条件下进行的。(不受控制的室温,不受控制的湿度)。所使用的测量设备是高工业。标准。此应用程序报告中的所有值可能与硅不同,与所使用的值不同。测量设备,在相应的设备特定数据表的值的超集。
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