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一种抗辐射加固检错纠错电路的设计

消耗积分:2 | 格式:pdf | 大小:0.32 MB | 2025-08-11

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分析 了电子元器件在空间辐射影响 下的一些性能 变化 ，设计 了一种应用于星栽计算机数 据 管理 系统 的抗辐 射加 固检错 纠错 电路 。重点介 绍 了逻辑 设计 、版 图设计 和抗 辐射加 固设 计 。 电路 采用商用标准 CMOS工艺加工，使用版图级、单元级和 电路级等 多层次的 0．5 m 综合体硅加 固技 术，提 高了抗辐射能力。试验结果表明，电路的抗辐射总剂量最高可达 3．6kGy(Si)。

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