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一种改进的基于扫描的电路设计

消耗积分:3 | 格式:rar | 大小:277 | 2010-05-10

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摘要：由于科学技术的快速提高，单一芯片中所包含的晶体管的数目越来越多，相对造成了芯片可测试度的降低．以及测试成本的增加。传统的基于扫描的测试方法中，常会有测试时间太长的缺点。本文采用了向量压缩．并用Test-PerClock的方
式来处理待测电路，减少了测试时间，不影响故障覆盖率。
关键词：内建自测试；多输入特征寄存器；线性反馈移位寄存器
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