ESI Allegro XP是专为多层陶瓷电容器(MLCC)制造商设计的高通量电气测试系统,特别适用于生产大尺寸、高电压电容,广泛应用于汽车、物联网、手持设备及商用通信设备等领域。
主要特点
高压测试能力:支持最高1kV的电气测试,满足新一代高压芯片的测试需求。
低冲击芯片处理技术:采用ESI专利的低冲击旋转式芯片传送技术,有效降低测试过程中的芯片损伤风险。
超高速测试:测试速度高达每分钟16,666颗(每小时100万颗),大幅提升生产效率。
广泛电容支持:支持120 Hz / 1 kHz / 1 MHz测试频率,覆盖全系列MLCC尺寸。
柔性接触技术:专利脉冲驱动接触技术,最小化端子印记,保持接触稳定性。
支持芯片尺寸
0603 (1608 metric)
0805 (2012 metric)
1206 (3216 metric)
1210 (3225 metric)
测试功能
电容 & DF(120Hz、1kHz、1MHz)
IR 预充电、预浸泡、电流测量
100% 数据采集(可选)
基本参数
产量:最高16,666颗/分钟(100万颗/小时)
测试电压:2V – 600V(标准),可选最高1,000V
充电电流:2mA – 250mA(标准),可选2mA – 90mA(高压保护)
测量电流:1pA – 2mA,可选18mA
分选仓:最多9个(含容差、废品、复测仓)
控制系统:多核处理器、触控屏、网络控制(可选)
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