本指导性技术文件为电子设备和系统的非T作状态可靠性预计提供了基本的数据和方法。
本指导性技术文件适用于电子设备和系统在非工作状态下的可靠性预计,其中元器件非工作可靠性详细预计法适用于产品已具有详细的元器件清单的设备研制阶段:元器件非工作计数可靠性预计法适用于产品研制的初步设计阶段。
本指导性技术文件提供的基本失效率数据未考虑核辐射环境,也未考虑电离辐射的影响。
元器件质量直接影响其失效率,不同质量等级对元器件非工作失效率的影响程度以非工作质量系数INO来表示。从而,元器件非工作失效率预计模型中的7MxO值取央于元器件的质量等级。
在元器件的标准中,一般都规定了元器件在制造、检验及筛选过程中的质量控制水准,按此不同控制水准组织生产和管理的产品,具有不同的质量档次。干是,产品标准是划分其质量等级的主要依据。此外,由于一些设备仍需采购技已宜布作废或被替代的标准,或按供需双方确认的技术协议和型号工程附加质量要求等进行生产的元器件,因而在质最等级及系数表的“质量要求补充说明”栏目中给出相关标准和技术协议。
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