热阻测试仪_陕西天士立ST-HeatX_平替进口。产品符合JESD 51-1、JESD 51-14标准，可输出结构函数，用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多种类型功率器件及其模组的_热阻抗_热特性_瞬态热阻_稳态热阻_Kcurve_Rth_Zth_热结构分析
关于天士立ST-HeatX热阻测试仪
天士立ST-HeatX热阻测试仪的产品特点
超高精度：温度(T;)分辨率0.01℃℃，1MHz变频采样:
技术领先：第三代瞬态热测试技术，可输出结构函数进行热结构分析
行业领先：具备4路高速高精度采集模块，采样速度，精度均达到行业顶尖水平
架构领先：采用B/S架构控制系统、可远程对设备进行状态监控和控制，实现智能化;
瞬态监测：连续采集加热和冷却区的结温变化，同步采集温度监控点数据;
NPS技术：同步采集温度监控点(NTC/PTC)和结温数据，形成数据关系矩阵。
天士立ST-HeatX热阻测试仪的应用场景
器件结壳热阻测量天士立ST-HeatX热阻测试仪
散热结构分析天士立ST-HeatX热阻测试仪
Die-Attach热阻测量天士立ST-HeatX热阻测试仪
DBC/AMB基本热特性测量天士立ST-HeatX热阻测试仪
界面热阻测量与分析天士立ST-HeatX热阻测试仪
PCB板级散热结构分析天士立ST-HeatX热阻测试仪
散热器性能测量天士立ST-HeatX热阻测试仪
TIM材料热导率测试天士立ST-HeatX热阻测试仪
热缺陷检测天士立ST-HeatX热阻测试仪
天士立ST-HeatX热阻测试仪的“功能指标”
| 产品品牌 | 天士立 | |
| 产品型号 | ST-HeatX | |
| 产品名称 | 半导体热特性测试系统 | |
| 主要功能 | 适用于多种类型功率器件及其模组的瞬态热测试、热结构分析、结构函数输出 | |
| 试验对象 | DIODE、MOSFET、IGBT/IGCT、HEMT、GTO、IC | |
| 试验标准 | 符合JESD51-1、JESD51-14、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG 324等相关标准要求 | |
| 试验模式 | DIODE模式 SAT模式 IGBT模式 RDSON模式 HEMT模式 | |
| 门控电源 | 数量 4 输出方式 隔离输出 输出范围 -10V ~ 20V 输出误差 ≤0.1V + 0.5%set 分辨率 0.01V | |
NTC/PTC 数据同步 采集 | NTC测量范围 250kΩ 〜 100Ω PTC测量范围 100Ω 〜 250kΩ 最高采样频率 1MHZ 同步时间误差 ≤1μs | |
栅极漏电 测量 | 量程分辨率1nA ~ 850nA@0.01nA 量程分辨率850nA ~ 1mA@0.01uA | |
| 加热电源 | 量程 30A / 10V 电流输出误差 ≤0.05A + 0.1%set 电流设定分辨率 0.01A 开关速度1μs | |
测温电流源 （主） | 量程 ±0.1A ~ ±1A / 10V 分辨率 1mA 误差 ≤2mA + 0.5%set | |
测温电流源 （辅） | 量程 0 ~ 100mA / 10V 分辨率 0.01mA 误差 0~10mA ≤50μA + 0.5%set 误差 10 ~ 100mA ≤0.5mA + 0.5%set | |
| 测量通道 | 数量 4 动态电压测量范围 ±5V(差分模式) 动态电压测量误差 ≤1mV + 0.5%set 动态电压量程 100mV、200mV、400mV、800mV 动态电压分辨率 1.6μV 采样频率 最高1MHz 采样模式 连续变频采样 |
天士立ST-HeatX热阻测试仪的“温度系数标定”
天士立ST-HeatX热阻测试仪的“瞬态热测试”
四、数据处理与输出
4.1、“数据处理与输出”天士立ST-HeatX热阻测试仪
4.2、“热模型抽取”天士立ST-HeatX热阻测试仪
4.3、“脉冲热阻”天士立ST-HeatX热阻测试仪
4.4、“安全工作区”天士立ST-HeatX热阻测试仪
ST-HeatX迷你版（10A5V1C1P版本）
