主要功能 | 直流耐压测试、绝缘电阻测试、绝缘击穿电压测试、波形显示功能、ARC放电检测功能、接触检查功能 (详情请参照“各测试·功能”表) |
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功能一览 | 联锁、自动放电、消除偏移、瞬时输出、命令监控、I/O HANDLER、按键锁定、自检、校准期限检测、EXT SW(远程控制) |
使用温湿度范围 | 0°C~40°C,80% RH或以下(无结露) |
适合标准 | 安全性:IEC 61010 EMC:IEC 61326 |
电源电压 | AC 100 V ~ 240 V |
功耗 | 约180 VA※ ※ 电源条件为电源电压220 V、电源频率 50/60 Hz、测试模式直流耐压测试、测试电压2.5 kV、负载电流5 mA负载电阻500 kΩ)的情况下。 |
最大额定功率 | 800 VA |
接口 | 通讯:USB,LAN,EXT. I/O 选件:RS-232C(Z3001),GP-IB(Z3000) 存储:U盘 |
尺寸·重量 | 305(W)×142(H)×430(D)mm(不含突起物) |
附件 | 电源线,CD-ROM(PDF:使用说明书,通讯使用说明书),EXT.I/O用公头连接器,EXT.I/O用连接器盖EXT.I/O用联锁解除治具,启动指南 |
各测试·功能
直流耐压测试 | 输出电压:DC 0.050 kV ~ 3.000 kV(1 V分辨率) 输出设置精度:±(1.2% of setting + 20 V) 输出电流/截止电流:20 mA max 电流精度(*1):3.00 mA <:±(1.5% rdg.+2 μA)≤ 3.00 mA:±1.5% rdg. 最小分辨率:0.001 μA 测试时间:0.1 s ~ 999 s,Continue(Timer OFF) 电压上升/下降时间:0.1 s ~ 300 s / 0.1 s ~ 300 s,OFF 短路电流200 mA 以上 测试模式W→IR,IR→W,程序测试 |
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绝缘电阻测试 | 输出电压:DC 50 V ~ 1000 V(1 V分辨率) 输出设置精度:±(1.2% of setting + 20 V) 电阻值显示范围:100.00 kΩ ~ 200.0 GΩ(0.01 kΩ分辨率) |
绝缘击穿电压测试 | 测试方法:连续升压测试,逐级升压测试 设定内容:初始电压,结束电压,升压速度,ARC检测,电极间距离,电流上限值 检测有效电压:150V以上 |
波形显示功能 | 波形显示内容:电压,电流,绝缘电阻 采样速度:500 kS/s 内存容量:512 K words |
ARC放电检测功能 | 检测方式:监视试验测试电压的变动 设定内容:测试电压变动率1%~50% 检测有效电压:150V以上 |
存储功能 | ·波形·图形
·面板保存功能
·数据存储功能 |
判定功能(判定输出) | 判定为PASS,判定为FAIL(UPPER FAIL,LOWER FAIL) UPPER_FAIL:测量值>上限值 PASS:上限值≥测量值≥下限值 LOWER_FAIL:测量值<下限值 |
注记(*1) | 环境温度t不足5℃时加上±(1% rdg.×(5-t ) ) 环境温度t超过35℃时加上±(1% rdg.×(t-35 ) ) |
绝缘电阻测量精度(*2)(精度保证测试电压范围:50 V ~ 2000 V)
测试范围 | 100 kΩ ~ 99.99 GΩ | |
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10 nA ≦ I ≦ 3 μA | 100 MΩ ~ 999.9 MΩ 1.00 GΩ ~ 99.99 GΩ | ±(20% rdg.) |
100 nA ≦ I ≦ 30 μA | 10.00 MΩ ~ 99.99 MΩ 100.0 MΩ ~ 999.9 MΩ | ±(5% rdg.) |
1 μA ≦ I ≦ 300 μA | 1.000 MΩ ~ 9.999 MΩ 10.00 MΩ ~ 99.99 MΩ | ±(2% rdg. + 5 dgt.) |
10 μA ≦ I ≦ 3 mA | 100.0 kΩ ~ 999.9 kΩ 1.000 MΩ ~ 9.999 MΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
100 μA ≦ I ≦ 20 mA | 100.0 kΩ ~ 999.9 kΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
注记(*2) | · 测试电压为50 V〜99 V时,测量精度加算±10% · 测试电压为100 V〜999 V时,测量精度加算±5% · 测试电压为1000 V〜2000 V时,测量精度加算±2% · 环境温度t小于5℃时,加上测量电流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) ),或者加上测量电流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) ) · 环境温度t超过35℃时,加上测量电流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) ),或者加上测量电流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) ) · 测定速度为FAST2时,测量精度加倍 |