inTEST 芯片高低温冲击热流仪

型号: ATS-535

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伯东企业(上海)有限公司

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--- 产品详情 ---

上海伯东美国 inTEST ATS-535 集成空压机的高低温冲击热流仪, 高低温测试范围 -60 至 + 225°C, 为半导体功率器件 ( MOSFET, IGBT, SIC, GaN,车规级芯片…), 功率模块, 功率集成电路, 智能传感器等芯片研发提供高低温测试解决方案.
 

inTEST 热流仪



inTEST ATS-535 高低温冲击热流仪优势
集成空压机: 特别适用于对环境噪音有严格要求的写字楼园区或研发环境, 省去重新评估空压系统及配管的时间及人力成本, 解决了因为环境受限无法提供压缩气体的芯片高低温测试难题.
移动式设计: 机动性更强
温度范围广: -60 至+ 225°C
整机静音节能设计: 整机噪音 < 60 dBA (内置空压机)
兼容市面上各品牌半导体测试机, 满足带电时的芯片各类测试.
远程接口: IEEE.488, RS232; LabViewTM 驱动

inTEST ATS-535 高低温冲击热流仪基本参数

高低温冲击范围

-60至+ 225°C

变温速率

-40至+ 125°C <12秒

+125至-40°C <40秒

系统气流输出*

5scfm(2.4l / s)固定流量

温度显示和分辨率

+/- 0.1°C

温度精度

1.0°C(根据  NIST 标准校准时)

DUT 温度控制

专有的控制算法可直接控制 DUT 温度

DUT 传感器端口

热电偶:T&K型

电源

制冷机功率:220±10%VAC 50 / 60Hz 16amp
压缩机功率:220±10%VAC 50 / 60Hz 30amp

工作温度

+ 20°至+ 28°C; +23°C 标称值

湿度

0至60%;  额定值的45%

尺寸

194.7cm(76.7inch)X 61.7cm(24.3inch)X 108.6cm(42.8inch)

重量

249.5kg(550lbs)


inTEST ATS-535 应用场景
 

inTEST ATS-535



美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. inTEST 热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.
 

若您需要进一步了解 inTEST 热流仪详细信息或讨论, 
请联络上海伯东: 叶女士 分机107

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