GB/T 4937.2是半导体器件机械和气候试验方法系列标准中的重要组成部分，专门用于测试器件在极端低温贮存条件下的耐受能力。该试验将器件暴露于规定低温（通常为-40℃、-55℃或-65℃）下，持续时间为24小时、72小时或1000小时（长期贮存），期间器件不工作。试验后恢复至室温，检测其外观、电参数及功能是否满足规范要求。主要评估塑料封装在低温下的脆化、引线断裂、内部水汽结冰引起的电性异常等。适用于二极管、三极管、集成电路、光电器件等。
广电计量环境可靠性检测实验室拥有多台高精度低温贮存试验箱，温度范围覆盖-70℃~+150℃，控温精度±0.5℃，且具备大容积（1m³以上）以满足批次抽检需求。实验室严格按照GB/T 4937系列及JESD22-A119等国际标准执行，测试过程全程记录温度曲线和器件响应数据。广电计量在半导体可靠性领域积累了丰富的案例库，可为客户提供从样品预处理、偏置条件设计到最终测试的一站式服务。此外，实验室还支持极端低温下的非工作可靠性评估，助力企业通过J工或车规级低温贮存认证。