BW-3010A
晶体管光耦参数测试仪
BW-3010A型光藕参数测试仪是专为各种型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。BW-3010A型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试，BW-3010A为各种光藕提供了输入正向压降（VF）和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中，测试条件可以任意设置，测试正向压降和输出电流可达1A，操作简便，实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。
产品电气参数：
产品信息
产品型号：BW-3022A
产品名称：晶体管光耦参数测试仪；
物理规格
主机尺寸：深 305*宽 280*高 120(mm)
主机重量：＜4.5Kg
主机颜色：白色系
电气环境
主机功耗：＜75W
环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；
相对湿度：≯85%；
大气压力：86Kpa～106Kpa；
防护条件：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等；
电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作时间：连续；
服务领域：
应用场景：
▶选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）
▶检验筛选（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
产品特点：
▶大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单
▶大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.
▶全部可编程的DUT恒流源和电压源.
▶内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.
▶高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1500V；
▶重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题；
▶软件自校准功能；
▶自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试；
▶DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型，显示测试结果是否合格,并有声光提示；
▶两种工作模式：手动、自动测试模式。
BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系
| 型号类型 | P1 | T1 | P2 | T2 | P3 | T3 | P4 | T4 |
| 光藕PC817 | A | A测试端 | K | K测试端 | E | E测试端 | C | C测试端 |
BW-3010A测试技术指标：
1、 耐压(VCEO)测试指标
| 测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
| 0-1400V | 1V | <2%+2RD | 0-2mA |
2、输入正向压降(VF)
| 测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
| 0-2V | 2mV | <1%+2RD | 0-1000MA |
3、反向漏电流(ICEO)
| 测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
| 0-2000uA | 1UA | <5% +5RD | BVCE=25V |
4、电流传输比(CTR)
| 测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
| 0-9999 | 1% | 1% +5RD | BVCE：0-20V IF:0-100MA |
5、输出导通压降(VCE(sat))
| 测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
| 0-2.000V | 2mV | 1% +5RD | IC：0-1.000A IF:0-1.000A |
6、极性识别方式：自动极性转向测试 （自动识别方向）
7、 可分档位总数：10档