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高电压CMOS放大器利用单个IC实现高阻抗检测

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:0.51 MB | 2017-05-11

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  引言

  电压的准确测量需要尽量减小至被测试电路之仪器接线的影响。典型的数字电压表 (DVM) 采用 10M 电阻器网络以把负载效应保持在不显眼的水平,即使这会引起显著的误差,尤其是在包含高电阻的较高电压电路中。

  解决方案是采用静电计配置的高阻抗放大器,因此来自测试节点的放大器输入电流就微乎其微。为使输入电流值尽可能低,传统上都把场效应晶体管 (FET) 用在这些电路的输入端。FET 一般是低电压器件,并会引起难以消除的电压失调不确定性。虽然具有包括 FET 输入的单片式放大器,但它们通常是非常低电压的器件 (特别是那些采用典型 CMOS 制作方法的放大器),因此其适用范围局限在高电压应用。可以考虑一下 LTC®6090,这是一款精度在 mV 以内并能处理超过 140VP-P 信号摆幅的 CMOS 放大器,非常适合于解决上述问题。

  LTC6090 可轻松地解决高电压检测问题

  LTC6090 在单个器件中整合了一组独特的特性。其 CMOS 设计特性在高输入阻抗和“轨至轨”输出摆幅中提供了极限,但与采用 5V 供电的典型 CMOS 器件不同,LTC6090 能采用高达 ±70V 电源运作。而且,该器件在小信号领域中也可占有一席之地,其具有低于 500µV 的典型 VOS 和 11nV/√Hz 的电压噪声密度,从而可提供惊人的动态范围。高压操作可能会带来显著的功耗,因此 LTC6090 提供了耐热性能增强型 SOIC 或 TSSOP 封装。这款器件具有过热输出标记和输出停用控制功能,因而无需额外的电路即可提供灵活的保护措施。

高电压CMOS放大器利用单个IC实现高阻抗检测

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