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芯片功能性及参数测试的工程文件免费下载
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2020-11-30
shenchu123
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本文档的主要内容详细介绍的是芯片功能性及参数测试的工程文件免费下载包括了：• ATE测试流程(Test Flow) •DC参数测试 •功能(Functional)测试 • AC参数测试
ATE测试流程构成 • 包含多个测试项 • 多个测试项按照一定的先后顺序或根据测试结果进行跳转执行 • 根据测试项结果，进行分bin，以利于测试中的信息收集、良品等级区分和统计 • Soft binning控制软件计数器记录良品的种类和不良品的类型，便于测试中确定芯片的失效类别。 Soft binning数目原则上没有限制 • Hard binning控制物理硬件实体（如机械手）将测试后的芯片放到实际的位置中去，这些位置通常放着包装管或者托盘。 Hard binning 的数目受到外部自动设备的制约
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