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低功耗的单片机系统RAM测试

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:0.05 MB | 2021-03-18

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　　在各种单片机应用系统中，存储器的正常与否，直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性，对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了常用的单片机系统RAM测试方法，并在 MARCH-G算法的基础上提出了一种低功耗的改进方法。它具有测试功耗低，故障覆盖率较高的特点。

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