×

低功耗的单片机系统RAM测试

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:0.05 MB | 2021-03-18

分享资料个

　　在各种单片机应用系统中，存储器的正常与否，直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性，对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了常用的单片机系统RAM测试方法，并在 MARCH-G算法的基础上提出了一种低功耗的改进方法。它具有测试功耗低，故障覆盖率较高的特点。

下载并关注上传者 开通VIP，低至0.08元下载/次

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !