×

基于agilent93000系列SoC的数字芯片测试文件

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:1.00 MB | 2021-04-19

2零一8

分享资料个

由於本中心舊有之晶片量測系統IMS ATS200使用已達10年，故障頻繁，已無法對各界提供良好服務，為了提升國內學術界透過本中心下線之晶片量測環境，以及產業未來發展，中心於西元2004年引進『Agilent 93000 SOC Series』混合訊號自動測試設備，該機台特色為模組化設計，可針對不同類別的IC選購不同的模組，來達到在單一平台上就可以測試各式各樣的IC，包括了純數位IC、混合訊號IC與SOC系統單晶片。在引進此設備後，中心將建立展新的晶片測試環境，提供各界更良好晶片測試環境。本文將對中心引進的『混合訊號自動測試設備』功能以及如何使用此設備來進行數位晶片測試作一簡單介紹。

基于agilent93000系列SoC的数字芯片测试文件

下载并关注上传者 低至0.43元/天 开通VIP 免费下载

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !