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ADI多通道SMU源测量单元设计方案

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:0.76 MB | 2021-05-08

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Source Measurement Unit源测量单元（简称SMU）在测试测量领域有着非常广泛的用途。比如针对半导体器件的I-V特性曲线测试，各种非线性器件或材料的参数测试以及各种类型电池的充放电测试等。SMU在V/I坐标轴的四个象限都能工作，并且在输出一个信号的同时能够测量另外一个类型的信号。之前通常需要多个仪器共同协作才能完成的功能，现在单台SMU就可以实现了。市面上已有不少成熟的SMU产品，通常是用离散器件构建，能够实现多种电流/电压的输出组合以及非常精准的测量，但是缺点是结构非常复杂且成本高昂。本篇介绍了使用AD5522主控+电压/电流放大级构成的SMU参考设计。

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