在2010年5月acam公司对于
数字传感器原型进行了EMI1测试。这次测试的目的是对于数字传感器原型针对OIML2标准的EMI电磁 (“EMI免疫”)抗干扰能力进行调查和研究。 因此针对EMI干扰我们尝试了不同的抗干扰措施来看一下哪种测试情况最佳。这些研究调查的结果将会呈现在这个应用指南当中,包括如何加保护电路来针对电磁干扰。用一句话总结就是通过简单的保护措施就可以达到好的EMI抗干扰性能,完全可以满足如OIML所规定的测试标准 。
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