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芯片测试产品手册

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:3.34 MB | 2023-11-02

汉通达
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联 合 仪 器(United Instruments)的 芯 片 自 动 测 试 系 统 是基于PXI架构的开放式平台，可以根据客户需求定制测试 方案，灵活开放的PXI架构可以实现目前芯片测试的扩展功 能 ， 可 根 据 需 求 兼 容 不 同 厂 商 的 仪 器 ， 不 必 受 限 于 单 个 ATE厂 商 的 有 限 产 品 。 是 针 对 数 字 芯 片 、 逻 辑 芯 片 、 传 感 器 、 MCU单片机 、 MEMS、  消费类电子芯片 、 电源芯片等 芯片测试的高集成度自动测试系统解决方案。
北京汉通达科技有限公司为联合仪器产品中国区总代理与技术支持中心。

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