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ISL73148SEH SEE 测试报告
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2024-01-05
王婷
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在太空应用中遇到的强质子和重离子环境会导致各种单电子电路中的事件效应(SEE)，包括单事件翻转(SEU)、单事件瞬态(SET)、，单事件功能中断(SEFI)、单事件锁存(SEL)、单次事件门断裂(SEGR)，以及单事件燃尽(SEB)。SEE可能导致系统级性能问题，和破坏。为了实现可预测和可靠的空间系统运行，单个电子部件应其特征在于确定它们的SEE反应。本报告讨论了在ISL73148SEH产品。ISL73148SEH提供75千拉德(硅)的辐射保证屏蔽10mrad(Si)/s。
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