×

THS4271集成电路实验特性及其应用

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:518 KB | 2012-05-22

分享资料个

以TI公司生产的集成运放THS4271为基础搭建实验测试电路，在定义的条件下实验，分别测量了运放的输入失调电压UIO ，输入失调电流IIO，共模抑制比CMRR，开环差模放大倍数ＡUd 等主要参数。同时对测量的数据对应的相应的参数进行了简单分析。基于THS4271的单位增益稳定，低失真，高压摆率等特性，举出几个应用实例，来说明其在某些工程领域有一定的应用价值，供今后的使用者参考。

下载并关注上传者 低至0.43元/天 开通VIP 免费下载

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !