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基于1553B总线的BU-61580芯片测试系统的设计

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:1.25 MB | 2013-03-04

刘明

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BU-61580芯片测试系统用于检测DDC公司的BU-61580系列芯片的总线协议功能和电气特性，筛选失效芯片，并具备芯片接口时序调整功能，可检验芯片在不同的接口环境和工作方式下的特殊表现。以Windows XP为开发平台，标准VC++为开发工具，针对该芯片设计一套测试系统。PCI总线接口的专用芯片测试卡能够方便的插入待测试的芯片，与之相应的测试系统能够设置芯片的访问时序，测试芯片工作于不同模式下的状态。实际应用表明，该测试系统具有测试界面灵活、简单、准确的特点，满足了用户的要求。

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zhj124 2020-12-07
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nihong329 2018-07-13
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