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ARM JTAG 调试原理

消耗积分:10 | 格式:rar | 大小:322 | 2009-07-14

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这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍,在此基础上,结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。
这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会,希望对想了解ARM JTAG调试的网友们有所帮助。我个人对ARM JTAG的理解还不是很透彻,在文章中,难免会有偏失和不准确的地方,希望精通JTAG调试原理的大侠们不要拍砖,有什么问题提出来,我一定尽力纠正。同时也欢迎对ARM JTAG调试感兴趣的朋友们一起交流学习。
2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
既然是介绍JTAG调试,还是让我们从IEEE的JTAG调试标准开始吧。JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的简称。IEEE 1149.1标准就是由JTAG这个组织最初提出的,最终由IEEE批准并且标准化的。所以,这个IEEE 1149.1这个标准一般也俗称JTAG调试标准。
接下来的这一部分,主要简单的介绍了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本构架。虽然不是很全面,但对了解JTAG的基本原理来说,应该是差不离了。如果希望更全面深入的了解JTAG的工作原理,可以参考IEEE 1149.1标准。

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评论(1)
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garfield137 2016-03-23
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这个之前没看过,下下来学习 收起回复

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