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基于JTA 的ARM芯片系统调试
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2009-08-14
王杰
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嵌入式ARM 软、硬件调试技术依赖于ARM 处理器调试硬件，本文在分析JTAG 边界
扫描结构的基础上，介绍了EmbeddedICE、嵌入式跟踪等实时调试技术，并给出了一个嵌入式调试开发系统的实例。
关 键 词：ARM JTAG EmbeddedICE 嵌入式跟踪
Abstrct：The debug technology for embedded software and hardware of ARM depends on the ARM processor’s debug hardware. First analyzing the structure of JTAG boundary-scan circuit， this paper introduced the debug technology of EmbeddedICE，Embedded trace and so on. In the end，an embedded debug development system is illustrated as an example.
Key word：ARM JTAG EmbeddedICE Embedded Trace
扫描结构的基础上，介绍了EmbeddedICE、嵌入式跟踪等实时调试技术，并给出了一个嵌入式调试开发系统的实例。
关 键 词：ARM JTAG EmbeddedICE 嵌入式跟踪
Abstrct：The debug technology for embedded software and hardware of ARM depends on the ARM processor’s debug hardware. First analyzing the structure of JTAG boundary-scan circuit， this paper introduced the debug technology of EmbeddedICE，Embedded trace and so on. In the end，an embedded debug development system is illustrated as an example.
Key word：ARM JTAG EmbeddedICE Embedded Trace
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