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基于MCU放电管直流击穿电压测量系统的设计

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:0.31 MB | 2017-08-31

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　　根据以上测试要求和需求分析，设计的测量系统见图8．测量系统由MCU作为主控单元，由D/A控制直流高压模块输出一定上升速率的测试电压，当试品击穿时，击穿电压经分压后进入峰值保持器．与此同时，电流测量模块快速响应回路中的脉冲电流，经整形后输出判据信号给MCU，继而MCU控制A/D对峰值保持器中的电压开始处理，控制、显示等均通过Modbus协议经由人机交互环节完成。

基于MCU放电管直流击穿电压测量系统的设计

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