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高速数据接口适用于半导体测试中的精密高速ADC
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2024-09-07
周必镜
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在半导体测试系统中，采样率更快的 ADC（模数转换器）可提供多种优势，包括： 1. 更低的噪声：由于 ADC 可以采集更多的信号样本，并且 ADC 可以对信号求平均值以降低噪声，因此更快的 采样率可以降低信号中的噪声。 2. 更好地检测瞬态事件：信号中的瞬态事件（例如尖峰或毛刺）可能会持续很短的时间，并且会被速度较慢的 ADC 错过。借助宽带宽和采样率更快的 ADC，可以更准确地捕获这些事件，从而更好地了解信号的特性。 3. 更快的测试速度：采样率更快的 ADC 还可以实现更快的测试速度，因为 ADC 可以在单位时间内采集和处理 更多数据。 4. 与高速器件兼容：更快且更复杂的器件会生成具有更高带宽的信号。为了准确捕获和测试这些信号，需要使用 采样率更快的 ADC。 5. 灵活测试多个信号：使用采样率更快的 ADC，可以一次测试多个信号，因为 ADC 可以快速在信号之间切换以 采集数据。
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