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四分幅X射线K-B显微镜成像系统
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2017-10-20
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为了满足“神光2”装置上的物理实验需求，上海激光等离子体研究所联合同济大学和深圳大学研发了四分幅X射线K-B显微镜成像系统。其中四通道K-B显微镜由同济大学制作，设计放大倍数约8倍，工作能段如图1，X射线分幅相机由深圳大学制作，采用三微带结构，离线测试表明，分幅相机空间分辨率月20 lp/mm，时间分辨力月75ps，触发幌动小于87ps。为了验证这套四分幅X射线K-B显微镜成像系统的整体性能并考核基数指标，通过在神光2装置上开展了考核实验，并成功地在物理实验中使用了这套系统。
实验条件
实验在“神光2”球型靶室上进行，图2为实验现场的照片，四通道KB置于靶室内，分幅相机通过转接法兰与靶室连接。利用八路激光中的四束经过束匀滑的3倍频激光叠加驱动背光靶，焦斑尺寸约300μm。考核实验中使用了Cu、Ti背光靶，分别提供图1中A、B能段的背光X射线背光。考核实验使用两种网格样品用于测定系统的空间分辨率如图3。
样品1为四象限网格，用于测定系统放大倍率及视场，4个区域分别为127，6.5，84，169μm；样品2用于测量系统极限分辨率，左上为16.9μm，右上12.7μm，下方为刀口。分幅相机安装在靶室外，使用光纤面板耦合的科学CCD相机作为后记录系统。
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