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高精度、高速ADC/DAC测试原理及测试方法的介绍
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2017-11-14
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随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的 ADC、DAC 的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中，一方面要求 ADC 有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号，另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此，保证 ADC/DAC 在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题。
ADC/DAC 芯片的性能测试是由芯片生产厂家完成的，需要借助昂贵的半导体测试仪器，但是对于板级和系统级的设计人员来说，更重要的是如何验证芯片在板级或系统级应用上的真正性能指标。
如图所示，由 Agilent 的 ESG 或 PSG 做为信号源产生高精度、高纯净度的正弦波信号送给被测的 ADC 做为基准信号，ADC 会在采样时钟的控制下对这个正弦波进行采样，变换后的结果用逻辑分析仪采集下来。
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