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如何有效地在ATE上提高DDR存储器接口测试覆盖率

消耗积分:5 | 格式:rar | 大小:344 | 2009-12-15

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如何有效地在ATE上提高DDR存储器接口测试覆盖率
叶庆, 郭铮, 楚中曙, 粟涯上海交通大学微电子学院，上海，中国，200122
摘要：双倍数据速率（ DDR， Double Data Rate）DRAM由于其速度快、容量大，
而且价格便宜，因此在各种需求大量数据缓存的场合得到了广泛使用。目前芯片上
内嵌的DDR DRAM接口已经成为标准接口，这就需要对其本身进行测试。由于每个
芯片速度特性的不同，使得DDR DRAM接口时间特性也不一样，用相同的测试程序
覆盖速度不同的芯片，会造成测试覆盖率的不同。本文在DQS上升沿转换点的搜索
定位基础上，通过对DQS、DQ时间采样点赋值的方法，有效地解决了因芯片速度特
性不同而引起的测试覆盖率问题。该方法经过批量生产的验证，可以提高约30%的
测试良率。
关键词：DDR, 采样点(输出数据波形时间采样点), 搜索定位
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