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用于PCB品质验证的时域串扰测量法

消耗积分:5 | 格式:rar | 大小:344 | 2010-02-07

刘芳

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用于PCB 品质验证的时域串扰测量法
作者:Tuomo Heikkil
关键词:TDS8000B,串扰,采样示波器,PCB,通信信号分析仪
摘要:本文讨论了串扰的组成,并展示了如何利用泰克的TDS8000B 系列采样示波器或
CSA8000B 系列通信信号分析仪来测量单面PCB 板上的串扰。本文讨论了串扰的组成,并向读者展示了如何利用泰克的TDS8000B 系列采样示波器或
CSA8000B 系列通信信号分析仪来测量单面PCB 板上的串扰。随着通信、视频、网络和计算机技术领域中数字系统的运行速度日益加快,对此类系统中的印刷电路板(PCB)的品质要求也越来越高。早期的PCB 设计在面临信号频率日益增高和脉冲上升时间日益缩短的情况下已无法保证系统性能和工作要求。在目前的PCB 设计中,我们需要利用传输线理论对PCB 及其组件(边缘连接器、微带线和元器件插座)进行建模。只有充分了解PCB 上串扰产生的形式、机制和后果,并采用相应技术最大程度地加以抑制,才能帮助我们提高包含PCB 在内的系统的可靠性。本文主要围绕PCB 设计展开,但相信文中所讨论的内容也有助于电缆和连接器的表征等其它应用场合使用。

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