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半导体激光器老化测试智能控制系统
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2010-07-21
王兰
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本文介绍了一个能对半导体激光器进行老化测试的智能控制系统。相对于已有系统[2]，该系统采用一个经过MATLAB优化设计的半导体激光器驱动电路，电路结构更为简单。控制系统能够同时在恒定电流老化筛选和恒定光功率老化筛选模式下，对多个半导体激光器进行老化测试。该系统的实验表明，工作稳定，性能良好。
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