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X射线不同方向辐照80C196KC20单片机研究
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2010-09-11
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摘要：为明确X射线不同方向入射对器件的影响，利用中国测试技术研究院的直流SJ-A X光机产生的X射线，从与垂直80C196KC20单片机表面不同方向角度对单片机进行辐照试验。试验结果显示，随着辐照角度由0度增加到90度，单片机所受的影响逐渐减小，90度时最不明显，表明此种单片机外壳在对其X射线总剂量效应的影响最大，原因在于D射线在不同方向照射时，需要穿过不同厚度的封套材料，X射线在此过程受到的衰减不同。
关键词：X射线辐照；80C196KC20单片机；总剂量效应；衰减
关键词：X射线辐照；80C196KC20单片机；总剂量效应；衰减
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