随着嵌入式系统设计中的电路越来越完善、容限越来越紧张,设计调试和验证过程中出现了许多新的问题。必须测量短期稳定性、漂移和波动等参数,了解电路在测量期间的行为。如果未能迅速发现难检问题,如间歇性瞬态信号和毛刺,那么可能会使项目耽搁几天或几周的时间。为在更长的时间周期内调试难检问题、测量器件行为,工程师们必须捕获和分析数千个测量数据点,这要求记录大量的数据或追踪测量趋势,而传统精密数字万用表是不能做到这一点的。泰克DMM4050 和DMM4040 台式万用表提供了一种独特的功能,满足了这一需求。TrendPlotTM 无纸化记录器模式为实时捕获和显示最小百万分之几的指标变化提供了简单的方法,而没有耗时的设置或自定义编程工作。TrendPlot 利用机载信号处理能力和高性能模数转换器,把测量指标的时序转化成容易存储和分析的表格,同时仍保持信息细节。
趋势绘制方法
有时,一个时点要求测量的不只是一个指标。参数会在不同时点变化。电源和参考电流或电压可能会随时间变化而漂移。振荡器可能会随温度变化。连接器在张力下可能会开路。环境变化可能会导致不可预测的结果。通过在几分钟、几小时或几天内进行多次测量,您可以使用TrendPlotTM 量化这些变化。可以直接记录DC 电压、DC电流、频率和电阻等参数。可以作为rms指标绘制AC电压和电流曲线。通过使用相应的传感器,可以把温度、压力和湿度转换成DC 电压。
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