精密推拉力试验机是一种用于测试微型半导体芯片力学性能的仪器，主要用于测量半导体芯片等的拉伸、压缩和弯曲强度等力学性能。这种仪器需要使用特定的拉力针进行测量，其原理是通过拉力针对样本施加一个沿轴线方向的拉力或压力，然后记录样本在这一拉力或压力下的变形情况，从而得到样本的力学特性参数。
精密推拉力试验机使用注意事项
1. 在使用推拉力机之前，一定要进行仪器的检查和校准，以保证其精度和可靠性。
2. 选用应根据实际测试需要进行，不同的推力拉力机适用于不同类型的样本。
3. 在对样本进行测试时，应保证样本的几何形状、尺寸和表面质量等参数符合要求，以保证测试结果的准确性。
4. 在实际测试中，应根据样本的力学性能特点和测试要求，选择合适的测试方法和测试参数。
5. 在对样本进行测试时，应按照仪器的使用说明书进行操作，避免错误使用和损坏。
6. 在测试中，应注意保持仪器的环境温度和湿度稳定，并避免外部干扰，以保证测试结果的可靠性和准确性。
设备型号：LB-8600
外形尺寸：660mm*610mm*800mm（含左右操作手柄）660*610*800
设备重量：约 95KG
电源供应：110V/220V@3.0A 50/60HZ
气压供应：4.5-6Bar
控制电脑：联想/惠普原装PC
电脑系统：Windows7/Windowsl0 正版系统
显微镜：标配高清连续变倍显微镜（可选配三目显微镜+高清CCD相机）
传感器更换方式：自动更换（在软件选择测试项目后，相应传感器自动至测试工位）
平台治具：360度旋转，平台可共用各种测试治具
XY轴丝杆有效行程：100mm*100mm 配真空平台可拓展至200mm*200mm，大测试力100KG
XY轴大移动速度：采用霍尔摇杆对XY轴自由控制，大移动速度为6mm/S
XY轴丝杆精度：重复精度±5um 分辨率≤0.125 ： 2mm以内精度±2um
Z轴丝杆有效行程：100mm 分辨率≤0.125um,大测试力20KG
Z轴大移动速度：采用霍尔摇杆对Z轴自由控制，大移动速度为8mm/S
Z轴丝杆精度：±2um 剪切精度2mm以内精度±lum
传感器精度：传感器精度土0.003%：综合测试精度土0.25%
设备治具：根据样品或图纸按产品设计治具（出厂标配一套）
设备校正：设备出厂标配相应校正治具及砝码一套
质量保证：设备整机质保2年，软件身免费升级（人为损坏不含）
