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使用AFR实现S参数测试校准的方法详细说明

消耗积分:1 | 格式:pdf | 大小:0.73 MB | 2020-07-07

王娟

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  我们先来讨论这样一个问题:如果先用SOLT校准校准到同轴端面,然后分别测试被测网络与直通校准件的S参数,再将两者参数进行去嵌处理,这样得到的结果是否就是DUT参数?

  对于这个问题我们可以在仿真软件里面搭建如下拓扑结构进行验证,左右fixture为40ohm的走线,DUT为45ohm的走线。

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