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如何才能不依赖微波暗室实现天线计量测试

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:0.75 MB | 2020-11-26

贾桂林

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  1、 研究背景

  随着通信技术的发展,天线向 3D 波束赋形和智能化演变,就天线测试设施而言,传统的远场测试系统测试速度慢,投资高。后来出现了球面近场测量系统,测试速度得以提高,设备投资得以降低,使得快速测量 3D 方向图成为可能。针对未来 5G 天线的测试,每个天线需要测试多种波束赋形的模式(也许超过 100 种),则测试工作量是巨大的。所以如何进一步提高测试速度、降低测试成本,是需要研究的。

  2、测试方法

  甚近场测量场地:近年来的新技术,不依赖电波暗室,这主要是因为在感应近场区,由于磁场的闭环特性,测量探头对磁场的扰动影响要轻微一些。在测得甚近场区域的磁场幅度、相位参量以后,需要进行数据处理才能换算得到远场辐射特性。
 

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