在微波暗室内对基站天线进行测试是一种常用的方法。由于暗室尺寸的限制,对增益较高的天线,往往不能满足远场测试条件。在这种情况下测试结果与远场情况下的测试结果有较大差异。本报告给出了一种由准远场距离上测得的方 向图计算远场方向图的方法。
如图1 所示的AUT为基站天线,天线沿着y轴方向的尺寸较小,容易满足远场条件,而x方向的尺寸较大,不满足远场条件。针对这类天线的方向图,可以采用该方法进行修正。
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