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宽带5G设备的五大测试挑战详细资料介绍
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2020-11-26
王秀兰
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宽带5G设备的设计工程师和测试工程师亟需快速、准确且经济高效的测试解决方案来确保新型芯片设计的可靠性。了解宽带 5G IC测试的最大测试挑战及其解决方案。 1.波形变得更宽且更复杂。 5G新空口包含两种不同的波形：下行循环前缀OFDM（CP-OFDM）和上行CP-OFDM 上行离散傅里叶变换扩频正交频分复用 （DFT-S-OFDM）；该波形与LTE的单载波频分多址接入系统（SC-FDMA）类似研究人员和工程师在测试5G设备时，面临着创建、分布和生成5G波形的新挑战。工程师需要处理高度复杂且符合标准的上行链路和下行链路信号，而且这些信号的带宽要比以前的信号大得多。他们需要分配各种资源；调制和编码信号；解调和探测信息并进行相位跟踪；进行单载波以及连续和非连续载波聚合配置。选择符合5G标准的工具，生成和分析所需的波形，并在不同测试台之间共享这些波形，以充分分析DUT的特征。
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