采用改进的 RCA 清洗工艺提高了硅片的低温键合质量, 提出了一种积聚式缓慢退火剥离方法用于制备智能剥离 SO I (Silicon O n Insulato r) 材料, 并用该材料成功地研制了双岛2梁2膜结构的 SOI 高温压力传感器。 对SOI压力传感器的测量结果表明, 当温度增加到 150℃左右时, 输出电压没有明显的变化, 其工作温度高于一般的体硅压力传感器 (其工作温度一般在 120℃以下)。 测得所制备SOI压力传感器的灵敏度为 63mV ö(M Pa·5V ) , 比用相同版图设计和工艺参数制备的多晶硅压力传感器高约 7 倍多。
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