×

有关X射线测厚仪技术的研究

消耗积分:5 | 格式:rar | 大小:120 | 2009-03-17

手托初梦

分享资料个

对西门子PLC（可编程控制器）在薄膜测厚仪上的应用进行了研究，并比较了传统的以工控机为核心的电控系统与以PLC 为电控核心的系统的优缺点。详细介绍了测厚仪电控系统的组成和原理，同时对测厚数据的处理方法进行了说明。实践表明，该系统控制结构简单，有较高的运行效率和可靠性。整套装置已成功运行在聚丙烯双向拉伸薄膜生产线上。
关键词：可编程控制器    测厚仪    数据处理
下载并关注上传者 低至0.43元/天 开通VIP 免费下载

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !