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电磁脉冲对微机接口电路的祸合实验研究
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2011-01-27
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摘要:受EMP照射的微机系统，当EMP场强达到一定数值时，其设备接口电路上即产生过
电压或过电流，从而使设备受到干扰或损伤。本文设计了一种典型的微机并行接口单片机电
路实验模型，介绍了该接口电路电磁脉冲藕合电压和藕合电流的浏量方法，并对测得的数据
进行了分析，得到了这类典型接口电路受到瞬时干扰和永久性损伤的电磁脉冲场强闺值。
关键词:电磁 脉冲 微机 接口电路 藕合
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