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电子装备自动测试关键技术

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:656 KB | 2011-05-06

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 随着现代电子测试技术、微电子技术、计算机技术的发展,自动测试系统也随着复杂电子装备的需求而不断发展,通用自动测试系统是自动测试系统今后发展的必然方向。简要介绍了自动测试系统的发展概况,通过对通用自动测试系统特点的分析,提出了“架构层”、“语法层”和“语义层”通用自动测试系统的概念,并讨论了涉及下一代通用自动测试系统的关键技术及应用方向,为通用自动测试系统的研究指明了方向。

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