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SD RAM测试方法研究

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:404 KB | 2011-05-20

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SDRAM 与其它存储器相比,具有速度快、容量大、价格低、集成度高的优势;然而,SDRAM 的测试却是一大难题。针对国内用户测试该类集成电路困难的现状,本文旨在研究SDRAM 及相关测试理论,并以H Y57V281620 为例,实现了在国产ATE 上SDRAM 测试程序的开发。通过验证,该方法可以很好的解决长期以来SDRAM 入库测试难的问题。
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