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SiC MOSFET动态测试上位机软件使用说明

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:0.96 MB | 2023-05-09

陈敏

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随着SiC MOSFET等器件的逐步发展，对于其性能测试的需求渐渐增大。同时因为器件测试条件上限的增加，现有的Si器件动态测试平台需要进行升级与改进。在现有的6.5kV/400A的器件动态测试平 台中，由于涉及高压电工作，如果进行近距离的操作较为危险；其次，测试器件的条件包含测试电压、电流等较多内容，手动更改较为繁琐；此外，测量得到的数据需要存储记录的过程，手动通过示波 器导入U盘不够便捷，同时双脉冲的测试整体流程较长，手动控制电源以及继电器的开关不太现实。为此，需要设计一款可用于自动控制动态测试平台的上位机软件，来辅助测试人员进行相关工作。 本软件是用于动态测试平台的上位机软件，包含自动控制器件动态测试整体流程、数据获取与分析计算、波形显示等功能。
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